线性10℃/min快变箱 电子元件温变测试箱
温变速率：线性 10℃/min，支持快速温度交变（-60℃~150℃）
湿度范围：20%~98% RH，精准模拟湿热环境
内箱容积：600*800*;850mm（约 408L），满足多样品测试需求，
应用领域：电子、汽车、航空航天、通信、材料等行业，用于环境应力筛选、可靠性测试等

线性10℃/min快变箱 电子元件温变测试箱

型号：TED-408PF
精准控温 | *品质 | 智能高效

• 结构设计：SUS304 不锈钢内箱，双层密封门，防雾观察窗

• 符合标准：GB/T2423.1-2008、IEC60068-2-1 等

性能优势

1. 高效温变能力：采用复叠式制冷技术与镍铬合金加热系统，10℃/min 线性温变速率可加速产品热应力释放，缩短测试周期 50% 以上。

2. 智能控制：韩国进口 TEMI880 触控控制器，支持 120 组可编程程序（每组 99 步），支持断电恢复与远程监控（RS232 接口），适配 GB/T2423.1、IEC60068 等国际标准。

3. 安全可靠：多重保护机制（超温 / 超压 / 断水报警）+ 独立超温保护器，确保设备与样品安全。

4. 结构优化：SUS304 不锈钢内胆 + 双层硅橡胶密封门，防雾观察窗与可拆卸层架设计，操作便捷。

线性10℃/min快变箱 电子元件温变测试箱

箱体结构与材质

外箱材质：冷轧钢板喷塑（防锈、耐腐蚀），厚度1.2-1.5mm，颜色可选。

内箱材质：SUS304不锈钢板（耐高温、耐酸碱），无缝焊接工艺，表面光洁易清洁。

保温层：高密度聚氨酯发泡（厚度120mm），导热系数≤0.025W/m·K，节能降耗。

密封设计：双层硅胶密封条+气压平衡装置，确保箱体气密性；门框加热丝防止结霜。

观察窗：双层钢化玻璃（带LED照明），耐低温防凝露。

典型应用场景

• 半导体行业：芯片封装热疲劳测试（JEDEC标准）、低温参数漂移检测。

• 汽车电子：动力电池模组温变冲击（GB/T 31467.3）、车载ECU可靠性验证。

• *航天：机载设备高低温循环测试（MIL-STD-810H）。

• 科研机构：新材料热膨胀系数分析、复合材料耐候性研究。