高低温冲击箱专为测试半导体承受瞬间冲击力而设计。它能够在短时间内实现高低温的快速切换，精准模拟极·-端温度环境。通过内置先-进的冲击系统，可对半导体施加准确的瞬间冲击力。箱内温度控制精确，确保试验环境稳定。该设备为半导体在复杂工况下的可靠性评估提供了重要保障，是半导体生产和研发中的测试利器
高低温冲击箱 测试半导体承受瞬间冲击力

高低温冲击箱 测试半导体承受瞬间冲击力

TSD-50F-3P 皓天冷热冲击试验箱的技术参数如下：

容积与尺寸：

内容积：50L。

内型尺寸：W400×H350×D350mm。

外型尺寸：W1250×H1450×D1320mm。

温度范围：

高温测试区：高温室温度范围为 + 60℃→+180℃。

低温测试区：温度范围为 - 60℃～-10℃。

温度冲击范围：（+60～+150）℃（热冲）；低温可至（-65～-10）℃（冷冲）。

温度性能：

温度稳定性：±0.5℃。

温度均匀度：±2.0℃。

升温时间：升温 + 20℃→+180℃≤25min（高温室单独运转时性能）。

降温时间：降温 + 20℃→-60℃≤60min（低温室单独运转时性能）。

制冷系统：

工作方式：机械压缩二元复叠制冷方式。

制冷压缩机：全封闭式活塞压缩机（法国泰康）。

制冷剂：R404a/R23（臭氧耗损指数为 0）。

其他配置：

控制器：彩色触摸屏 TFT（8226S）中英文显示器 PLC（控制软件）温控模块。

高低温冲击箱 测试半导体承受瞬间冲击力

产品用途

一、电子行业

半导体器件测试

对半导体芯片进行冷热冲击试验，模拟其在不同温度环境下快速切换时的工作状态。例如，在芯片封装后，通过该试验箱进行 - 60℃到 150℃的温度冲击，能够检测芯片内部连接是否稳固，是否会因为温度变化导致电路开路或短路，确保芯片在实际使用中能够承受复杂的温度环境。

电子元器件检测

诸如电阻、电容、电感等电子元器件，在生产过程中需要进行冷热冲击试验。例如，在航空航天电子设备中使用的高精度电阻，利用该试验箱进行多次冷热冲击，可检验其阻值稳定性。在温度循环过程中，观察电阻值是否出现超出公差范围的变化，保证电子元器件在极-端温度环境下的可靠性。

二、汽车行业

汽车电子元件验证

现代汽车中包含大量电子元件，如发动机控制单元、车载娱乐系统等。这些电子元件在不同季节和行驶环境下会面临温度的急剧变化。使用 TSD - 50F - 3P 试验箱，将汽车电子元件置于 - 10℃到 180℃的冷热冲击环境中，能够提前发现潜在的质量问题，例如电子元件在低温下启动是否正常，高温下是否会出现过热损坏等情况，保障汽车行驶安全。

汽车零部件测试

对于汽车的一些关键零部件，如制动系统的电子控制模块、传感器等，冷热冲击试验至关重要。在汽车行驶过程中，这些零部件可能会经历从寒冷的户外环境到发动机舱内高温环境的快速转变。通过试验箱模拟这种温度变化，可以评估零部件的材料性能和连接可靠性，防止因温度变化导致的制动失效等安全隐患。

三、航空航天领域

航空电子设备评估

航空电子设备对环境适应性要求极-高。该试验箱可用于对飞机上的通信设备、导航系统等进行冷热冲击试验。例如，在高空飞行时，外部环境温度极低，而设备自身运行会产生热量，通过 - 65℃到 + 150℃的冷热冲击试验，能够确保航空电子设备在这种极-端温度交替环境下能够正常工作，保障飞行安全。

航天材料筛选

在航天领域，新材料的应用需要经过严格的环境试验。冷热冲击试验箱可用于对航天材料进行测试，如航天器的外壳材料、隔热材料等。在模拟太空环境的温度变化过程中（例如从发射时的高温到太空中的低温环境），筛选出能够承受剧烈温度变化且性能稳定的材料，确保航天任务的顺利进行。

四、其他行业

通信设备可靠性测试

通信基站设备、光纤收发器等通信设备，在不同地理环境和气候条件下使用。利用该试验箱进行冷热冲击试验，可以检验通信设备在温度变化时的性能。例如，在北方寒冷地区的通信基站设备，在 - 60℃的低温冲击后能否正常启动和运行，以及在夏季高温时能否稳定工作，保障通信网络的畅通。

医疗器械质量保障

一些高-端医疗器械，如核磁共振设备、体外诊断仪器中的电子和机械部件，需要保证在不同温度环境下的可靠性。通过冷热冲击试验，确保这些医疗器械在医院不同科室（如常温的病房和有制冷设备的实验室）之间移动或使用时，不会因温度变化而出现故障，保障医疗诊断和治疗的准确性和安全性