高加速寿命试验箱（HALT 箱）是一种前卫的可靠性测试设备。它能快速模拟极-端温度、振动等环境应力，加速产品潜在缺陷暴露。其具有宽温度范围、高振动频率和快速温变能力，可有效缩短产品研发周期。通过在试验箱内对产品进行测试，能帮助企业在早期发现产品设计和制造缺陷，优化产品性能，提高产品可靠性，广泛应用于电子、航空航天等行业的产品质量把控。

温湿度偏压寿命试验箱 是一种用于对产品进行高加速应力测试的设备，旨在在短时间内模拟产品在恶劣环境下的使用情况，以快速暴露产品潜在的可靠性问题。 广泛应用于电子元器件、集成电路、印刷电路板、电子组装件等电子产品的可靠性评估，特别是高可靠性要求的航空航天、汽车电子、医疗设备等领域。

高压加速老化试验箱 是一种用于对产品进行高加速应力测试的设备，旨在在短时间内模拟产品在恶劣环境下的使用情况，以快速暴露产品潜在的可靠性问题。 广泛应用于电子元器件、集成电路、印刷电路板、电子组装件等电子产品的可靠性评估，特别是高可靠性要求的航空航天、汽车电子、医疗设备等领域。

hast试验箱 高温 高湿 高压可靠性 适用标准：GB/T2423.40 / IEC60068-2-66、JESD22-A102-D、JESD22-A110-D、JESD22-A118-A。

高速寿命试验箱是一种用于对产品进行高加速应力测试的设备，旨在在短时间内模拟产品在不同环境下的使用情况，以快速暴露产品潜在的可靠性问题。