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P产品分类RODUCT CATEGORY
介绍了选择测试芯片的快速温变试验箱温度范围需考虑的几个关键因素,
一是依据芯片应用场景,针对消费电子芯片、汽车电子芯片、航空航天芯片等不同应用领域的芯片,分别给出相应适宜的温度范围选择建议;
二是结合芯片规格要求,通过查看芯片数据手册以及考虑芯片可靠性要求来确定合适的温度范围;
三是参考相关的国际、国家标准,如 MIL-STD-810G 标准、GB/T 2423 标准中规定的温度范围,综合这些方面来准确选择满足芯片测试需求的试验箱温度范围。
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